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产品名称:X荧光光谱仪元素分析仪 型号:EDX4500H
EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行精确分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。


性能特点

高效超薄窗X光管,指标达到国际先进水平
最新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然

技术参数

产品型号:EDX 4500H
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:30秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35%-70%
样品腔体积:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg

标准配置

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵


软件功能

①、     支持Windows操作系统,中文版软件(可安装英文软件)。
②、     具有技术管理权限密码功能,可以更好的保护测试数据不被随意更改。
③、     光谱解析方法具有:全面积、净面积、高斯拟合、多元拟合、纯元素拟合五种方法。
④、     曲线类型具有:线性、二次曲线、插值法。每种方法还可以结合使用“归一化”的方法。
⑤、     软件具有定性分析,自动元素识别功能,方便对样品元素的识别和定性,并可以打印具有谱图的定性分析报告。
⑥、  具有叠加虚谱功能,方便作样品的定性对比分析
⑦、可以由软件自动控制切换准直器和滤光片,减少因人为更换错误准直器,而造成测量的误差


检测实例



应用领域

合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素)


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